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XRF镀层厚度测试仪实谱XAU 镀金镀银厚度分析

XRF镀层厚度测试仪实谱XAU 镀金镀银厚度分析

采用半导体探测器,可以同时满足镀层厚度和ROHS卤素分析,实现一机多用,快速分析仪功能。

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  • X射线荧光光谱仪,直读光谱仪,镀层测厚仪,ROHS检测仪

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  • 地   址:
    江苏 苏州 昆山市 学院里828
产品特性:台式是否进口:否产地:苏州
加工定制:否类型:镀层测厚仪品牌:实谱
型号:XAU测量范围:0到50微米mm显示方式:电脑显示
电源电压:220V

XRF镀层厚度测试仪实谱XAU 镀金镀银厚度分析详细介绍

XRF镀层厚度测试仪XAU采用高性能探测器:搭配高性能探测器,在检测多层合金、上下元素重复镀层及渗层时更加精准、稳定

变焦装置及

位置补偿算法:可对各种异性凹槽进行检测,凹槽深度测量范围可达0-30mm

自主研发EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂镀层,多层多元素,甚至有同种元素在不同层也可***测量

高集成光路系统:搭配微聚焦一体的高集成垂直光路交换装置

***的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限







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