| 产品特性：台式 | 是否进口：否 | 产地：苏州 |
| 加工定制：否 | 类型：镀层测厚仪 | 品牌：实谱仪器 |
| 型号：XTU-100 | 测量范围：0到50微米mm | 显示方式：电脑显示 |
| 电源电压：220V |
X-ray膜厚仪XU-100是一款***性价比的镀层厚度分析荧光光谱仪，产品操作简单，测试数据稳定，适合电镀厂，五金件产品，连接件，以及各种不规则的凹槽样。
性能介绍
1）搭载微聚焦加强型X射线发生器和***的光路转换聚焦系统
2）拥有无损变焦检测技术，手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm
3）核心EFP算法，可对多层多元素，包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析（钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精准检测***层Ni和第三层Ni的厚度）
4）配备高精密微型移动滑轨，可实现多点位、多样品的精准位移和同时检测
5）可同时分析23个镀层，24种元素，测量元素范围：氯Cl（17）- 铀U（92），涂镀层分析范围：锂Li（3）- 铀U（92），涂镀层***检出限：0.005μm
6）人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作
7）配有微光聚集技术，最近测距光斑扩散度10%
产品参数：
